学位
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工学博士 （ 1994年3月 明治大学 ）
所属
学部 情報コミュニケーション学部 専任准教授
職名
専任准教授
外部リンク
研究分野
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その他 / その他 / VLSI CAD
学歴
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明治大学 工学研究科 電気工学
- 1994年3月
国・地域： 日本国
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明治大学 工学研究科 電気工学
- 1991年3月
国・地域： 日本国
経歴
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明治大学 情報コミュニケーション学部 助教授
2005年4月
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明治大学 情報コミュニケーション学部 非常勤講師 専任講師
2004年4月 - 2005年3月
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明治大学 理工学部 非常勤講師 専任講師
1994年4月 - 2004年3月
所属学協会
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IEEE
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電子情報通信学会
論文
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論理回路の故障診断法 －外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展－
高松 雄三, 佐藤 康夫, 高橋 寛, 樋上 喜信
電子情報通信学会論文誌 J94-D ( 1 ) 266-279 2011年1月
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故障励起関数を利用したオープン故障の診断法
堤利幸, 高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 四柳浩之, 橋爪正樹, 高松雄三
電子情報通信学会論文誌 J93-D ( 11 ) 2416-2425 2010年11月
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A Novel Approach for Improving the Quality of Open Fault Diagnosis
VLSI Design 85-90 2009年1月
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オープン故障診断の性能向上について
電子情報通信学会技術研究報告 108 ( 99 ) 20-34 2008年6月
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A Method of Locating Open Faults on Incompletely Identified Pass/Fail Information
IEICE,Trans.Information and Systems E91-D ( 3 ) 661-666 2008年3月
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Fanout-Based Fault Diagnosis for Open Faults On Pass/Fail Information
Yuzo Takamatsu
IEEE computer society Proc.of 15th ATS 349-353 2006年11月
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Post-BIST Fault Diangosis for Multiple Stuck-at Faults
Hiroshi Takahashi, Yukihiro Yamamoto, Yoshinobu Higami, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Takashi Aikyo, Yasuo Sato
Proc. IEEE International Silicon Debug and Diaganosis 1-6 2005年11月
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On the fault diagnosis in the presence of unknown fault models usign pass/fail infomation
Takamatsu, Y., Seiyama, T., Takahashi, H., Higami, Y., Yamazaki, K.
IEEE International Symposium on Circuits and System ISCAS2005 2987-2990 2005年5月
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Identification of Redundant Crosspoint Faults in Sequential PLAs with Fault-Free Hardware Reset
T.Yamada, T.Kotake, H.Takahashi and K.Yamazaki
IEEE Computer Society, Proc. of 8th ATS 269-274 1999年11月
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CMOS回路における短絡故障の一モデルとそのテスト生成法
高松雄三 塩坂知子 山田輝彦 山崎浩二
電子通信情報学会論文誌D-1 J81 ( 6 ) 872-879 1998年6月
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An Approach to Diagnose Logical Faults in Partially Observable Sequential Circuits
K.Yamazaki, T.Yamada
IEEE Computer Society, Proc. of 6th ATS 168-173 1997年11月
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組合せ回路における論理故障のシミュレーションに基づく一診断法
山崎浩二 山田輝彦
電子通信情報学会論文誌D-1 J79 ( 12 ) 1123-1130 1996年12月
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An approach of diagnosing single bridging faults in CMOS combinational circuits
K.Yamazaki, T.Yamada
IEEE computer societyProc.of 3rd ATS 88-93 1994年11月
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組合せ回路におけるn線間の短絡故障の診断法
山崎浩二,山田輝彦
電子情報通信学会電子情報通信学会論文誌D-1 J77-D-1 77-85 1994年1月
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SIFLAP-G:A method of diagnosing gate-level faults in combinational circuits
K.Yamazaki, T.Yamada
IEICE Trans. Inf. & syst. E76-D 826-831 1993年7月
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A method of diagnosing logical faults in commbinational circuits
K.Yamazaki, T.Yamada
IEEE computer societyProc.of 1st ATS 170-175 1992年11月
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組み合わせ回路における単一短絡故障の診断法
山田輝彦 山崎浩二
電子情報通信学会電子情報通信学会論文誌D-1 J74-d-1 58-64 1991年1月
MISC
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故障シミュレータとテスト生成手法を併用したオープン故障の診断法
山崎浩二
明治大学 情報コミュニケーション学部紀要 ( 1 ) 207-216 2005年3月
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組合せ回路の単一短絡故障に対する検出率の一評価法
山崎浩二 山田輝彦
明治大学 理工学部研究報告 62 ( 6 ) 43-48 1992年3月
講演・口頭発表等
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「しきい値関数を利用したファンナウト中のオープン故障の診断法」
FTC研究会 2010年7月
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「テストパターンの診断分解能に及ぼす影響」
"◎村田裕*, 菱田和宏*, 山崎浩二(専任講師), 山田輝彦(教授)"
1998年3月
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「2重故障シミュレータを用いた組合せ回路における多重論理故障の診断法」
"◎佐々木智則*, 山崎浩二(専任講師), 山田輝彦(教授)"
1998年3月
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「誤り経路追跡と故障シミュレーションを用いた順序回路における単一故障の一診断法」
"◎山崎浩二(専任講師), 山田輝彦(教授)"
1997年12月
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｢部分可観測な組合せ論理回路における論理故障の診断法｣
FTC 研究会 1996年7月
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｢順序回路におけるプローブを用いた論理故障の一診断法｣
LSI テスティングシンポジウム 1995年12月
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A simple technique for locating gate-level faults in combinational circuits
"T.Yamada, K.Yamazaki and E.J.McCluskey"
IEEE computer societyProc.of 4th ATS 1995年11月 IEEE computer societyProc.of 4th ATS
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A simple technique for locating gate-level faults in CMOS combinational circuits
4th Asian Test Symposium 1995年11月
共同研究・競争的資金等の研究課題
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VLSIの半断線故障診断
2009年 - 2011年
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VLSIのオープン故障診断
2006年 - 2008年
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BIST環境下での故障診断
2003年 - 2005年
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VLSIにおける遅延故障の診断法
1999年
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VLSIにおける論理故障の診断法
1994年
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