Organization
Undergraduate School School of Information and Communication Associate Professor
Title
Associate Professor
External link
Degree
-
工学博士 ( 1994.3 明治大学 )
Research Areas
-
Other / Other / VLSI CAD
Education
-
Meiji University Graduate School, Division of Engineering Electrical Engineering
- 1994.3
Country/Region： Japan
-
Meiji University Graduate School, Division of Engineering Electrical Engineering
- 1991.3
Country/Region： Japan
Research History
-
Meiji University School of Information and Communication Associate Professor
2005.4
-
Meiji University School of Information and Communication Lecturer
2004.4 - 2005.3
-
Meiji University School of Science and Technology Lecturer
1994.4 - 2004.3
Professional Memberships
-
IEEE
-
電子情報通信学会
Papers
-
Fault Diagnosis for Logic Circuits - Development of Methods for Identifying Fault Locations based on Output Responses -
Yuzo Takamatsu, Yasuo Sato, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami
J94-D ( 1 ) 266-279 2011.1
-
A Method for Locating Open Faults by Using a Fault Excitation Function
Toshiyuki Tsutsumi, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Takashi Aikyo, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Yuzo Takamatsu
J93-D ( 11 ) 2416-2425 2010.11
-
A Novel Approach for Improving the Quality of Open Fault Diagnosis
VLSI Design 85-90 2009.1
-
オープン故障診断の性能向上について
電子情報通信学会技術研究報告 108 ( 99 ) 20-34 2008.6
-
A Method of Locating Open Faults on Incompletely Identified Pass/Fail Information
IEICE,Trans.Information and Systems E91-D ( 3 ) 661-666 2008.3
-
Fanout-Based Fault Diagnosis for Open Faults On Pass/Fail Information
Yuzo Takamatsu
IEEE computer society Proc.of 15th ATS 349-353 2006.11
-
Post-BIST Fault Diangosis for Multiple Stuck-at Faults
Hiroshi Takahashi, Yukihiro Yamamoto, Yoshinobu Higami, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Takashi Aikyo, Yasuo Sato
Proc. IEEE International Silicon Debug and Diaganosis 1-6 2005.11
-
On the fault diagnosis in the presence of unknown fault models usign pass/fail infomation
Takamatsu, Y., Seiyama, T., Takahashi, H., Higami, Y., Yamazaki, K.
IEEE International Symposium on Circuits and System ISCAS2005 2987-2990 2005.5
-
Identification of Redundant Crosspoint Faults in Sequential PLAs with Fault-Free Hardware Reset
T.Yamada, T.Kotake, H.Takahashi and K.Yamazaki
IEEE Computer Society, Proc. of 8th ATS 269-274 1999.11
-
CMOS回路における短絡故障の一モデルとそのテスト生成法
高松雄三 塩坂知子 山田輝彦 山崎浩二
電子通信情報学会論文誌D-1 J81 ( 6 ) 872-879 1998.6
-
An Approach to Diagnose Logical Faults in Partially Observable Sequential Circuits
K.Yamazaki, T.Yamada
IEEE Computer Society, Proc. of 6th ATS 168-173 1997.11
-
組合せ回路における論理故障のシミュレーションに基づく一診断法
山崎浩二 山田輝彦
電子通信情報学会論文誌D-1 J79 ( 12 ) 1123-1130 1996.12
-
An approach of diagnosing single bridging faults in CMOS combinational circuits
K.Yamazaki, T.Yamada
IEEE computer societyProc.of 3rd ATS 88-93 1994.11
-
組合せ回路におけるn線間の短絡故障の診断法
山崎浩二,山田輝彦
電子情報通信学会電子情報通信学会論文誌D-1 J77-D-1 77-85 1994.1
-
SIFLAP-G:A method of diagnosing gate-level faults in combinational circuits
K.Yamazaki, T.Yamada
IEICE Trans. Inf. & syst. E76-D 826-831 1993.7
-
A method of diagnosing logical faults in commbinational circuits
K.Yamazaki, T.Yamada
IEEE computer societyProc.of 1st ATS 170-175 1992.11
-
組み合わせ回路における単一短絡故障の診断法
山田輝彦 山崎浩二
電子情報通信学会電子情報通信学会論文誌D-1 J74-d-1 58-64 1991.1
MISC
-
故障シミュレータとテスト生成手法を併用したオープン故障の診断法
山崎浩二
明治大学 情報コミュニケーション学部紀要 ( 1 ) 207-216 2005.3
-
組合せ回路の単一短絡故障に対する検出率の一評価法
山崎浩二 山田輝彦
明治大学 理工学部研究報告 62 ( 6 ) 43-48 1992.3
Presentations
-
「しきい値関数を利用したファンナウト中のオープン故障の診断法」
FTC研究会 2010.7
-
「テストパターンの診断分解能に及ぼす影響」
"◎村田裕*, 菱田和宏*, 山崎浩二(専任講師), 山田輝彦(教授)"
1998.3
-
「2重故障シミュレータを用いた組合せ回路における多重論理故障の診断法」
"◎佐々木智則*, 山崎浩二(専任講師), 山田輝彦(教授)"
1998.3
-
「誤り経路追跡と故障シミュレーションを用いた順序回路における単一故障の一診断法」
"◎山崎浩二(専任講師), 山田輝彦(教授)"
1997.12
-
｢部分可観測な組合せ論理回路における論理故障の診断法｣
FTC 研究会 1996.7
-
｢順序回路におけるプローブを用いた論理故障の一診断法｣
LSI テスティングシンポジウム 1995.12
-
A simple technique for locating gate-level faults in combinational circuits
"T.Yamada, K.Yamazaki and E.J.McCluskey"
IEEE computer societyProc.of 4th ATS 1995.11 IEEE computer societyProc.of 4th ATS
-
A simple technique for locating gate-level faults in CMOS combinational circuits
4th Asian Test Symposium 1995.11
Research Projects
-
Fault location for partially open faults
2009 - 2011
-
Fault location for open faults
2006 - 2008
-
Fault location under BIST environment
2003 - 2005
-
Fault locaiont for delay faults on VLSI
1999
-
Fault location for logical faults on VLSI
1994
Click to view the Scopus page. The data was downloaded from Scopus API in April 07, 2026, via http://api.elsevier.com and http://www.scopus.com .